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光谱测试 的专利共 160
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1
高光谱图像的空间-光谱信息协同提高分辨率的方法 [申请号/专利号:200710144449]
申请人/专利权人:哈尔滨工业大学
高光谱图像的空间-光谱信息协同提高分辨率的方法,它涉及利用高光谱图像信息提高空间分辨率的方法。它解决了现有高光谱图像处理中存在的不能充分利用空间信息和光谱信息以改善图像...
2008年3月12日
2
高光谱亚像元目标探测方法及装置 [申请号/专利号:200710176782]
申请人/专利权人:北京航空航天大学
本发明公开了一种高光谱亚像元目标探测方法,该方法包括:建立目标光谱和待测图像像元光谱二维矩阵的逆模型;获取该逆模型的回归系数向量;根据得到的回归系数向量获取各像元的马氏...
2008年3月19日
3
一种光纤傅立叶变换白光干涉相对测量法 [申请号/专利号:200710177836]
申请人/专利权人:北京理工大学
本发明是一种光纤傅立叶变换白光干涉相对测量法,涉及光纤传感器技术,属于光电子领域。该方法选择两个Fabry-Perot干涉型(FPI)传感器,其中一个用于传感,另一个作...
2008年4月30日
4
一种光纤傅立叶变换白光干涉测量法 [申请号/专利号:200710177837]
申请人/专利权人:北京理工大学
一种光纤傅立叶变换白光干涉测量法,对传感干涉仪的输出白光光谱作傅立叶变换,傅立叶谱以干涉仪光程差决定的频率为载频,在频率空间分开为对称的两组载频分量;滤出其中一组分量作...
2008年4月9日
5
一种实现低照度大视场光谱测量的方法 [申请号/专利号:200710134979]
申请人/专利权人:无锡市星迪仪器有限公司
本发明涉及一种光谱测量技术,具体地说是一种实现低照度大视场光谱测量的方法。按照本发明提供的技术方案,在光谱采集物镜与光谱仪入射窗之间有积分棒,该积分棒指向光谱采集物镜的...
2008年4月9日
6
智能火焰检测装置 [申请号/专利号:200720036231]
申请人/专利权人:刘飞
智能火焰检测装置,包括火焰检测探头(1)、火焰放大器(2)、可编程滤波模块(201)、放大模块(202)、对数转换模块(203)、电压检测模块(204)、中央处理模块(...
7
快速探测宽谱面光谱的方法 [申请号/专利号:200710058715]
申请人/专利权人:天津市耀辉光电技术有限公司
本发明属于光栅摄谱仪快速探测宽谱面光谱的技术,本发明的快速探测宽谱面光谱的方法,包括多个CCD器件拼接探测光栅摄谱仪宽阔谱面的光谱、同步并行数据采集技术和三维显示不同时...
2008年3月5日
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9
一种成像光谱测量装置 [申请号/专利号:200720032066]
申请人/专利权人:中国科学院西安光学精密机械研究所
本实用新型涉及一种成像光谱测量装置,尤其是一种对空间目标进行探测的成像光谱测量装置。本实用新型的技术解决方案是:本实用新型为一种成像光谱测量装置,该装置包括光谱成像相机...
10
低杂散光快速光谱仪 [申请号/专利号:200720110670]
申请人/专利权人:杭州远方光电信息有限公司
本实用新型公开了一种低杂散光快速光谱仪,包括光信号采集机构和光学平台,其特征在于光学平台内包括带通色轮,带通色轮上设置一组带通滤色片和通孔,入射光线经带通滤色片或通孔后...
11
12
一种成像光谱测量装置 [申请号/专利号:200710018075]
申请人/专利权人:中国科学院西安光学精密机械研究所
本发明涉及一种成像光谱测量装置,尤其是一种对空间目标进行探测的成像光谱测量装置。本发明的技术解决方案是:本发明为一种成像光谱测量装置,该装置包括光谱成像相机,还包括有与...
2008年1月30日
13
不同类型光谱仪的对比方法 [申请号/专利号:200710018974]
申请人/专利权人:中国科学院西安光学精密机械研究所
一种不同类型光谱仪的对比方法,其从等波长光谱分辨率光谱仪数据获取最短波长处的光谱分辨率,从等波数分辨率光谱仪数据获取干涉数据的最大光程差,进行傅氏变换,以最大光程差作为...
2008年3月19日
14
一种快速光谱仪 [申请号/专利号:200720108258]
申请人/专利权人:杭州远方光电信息有限公司
本实用新型涉及一种快速光谱仪,包括一个用于测量待测光源光谱功率分布的快速光谱解析系统,在快速光谱解析系统上连接有用于采集光信号并将其传送至快速光谱解析系统的光信号采集装...
15
用于提高光纤传感器空间分辨率的等效脉冲光谱分析方法 [申请号/专利号:200710133312]
申请人/专利权人:南京大学
用于提高光纤传感器空间分辨率的等效脉冲光谱分析方法,涉及一种提高光纤传感器空间分辨率的数据分析方法。本发明利用对布里渊光纤传感器发射的脉冲光进行测量,得到布里渊光纤传感...
2008年3月12日
16
一种光谱仪器的波长标定方法 [申请号/专利号:200710177242]
申请人/专利权人:清华大学
一种光谱仪器的波长标定方法,主要涉及采用阵列探测器的光谱仪器的波长标定方法,属于光谱仪器波长标定技术领域。本方法光谱仪器采用阵列探测器,采用具有线状光谱的光源,从仪器输...
2008年4月9日
17
一种天体光谱离群数据挖掘系统和方法 [申请号/专利号:200710166362]
申请人/专利权人:太原科技大学
本发明公开了一种天体光谱离群数据挖掘系统和方法,以计算机(1)为中心,连接中星仪式反射施密特望远镜(2),并在计算机(1)上建立数据采集存储模块(3),天体光谱数据硬划...
2008年3月26日
18
便携式测色仪 [申请号/专利号:200720109664]
申请人/专利权人:赖知军
本实用新型公开了一种测量颜色的检测装置。现有的测色仪器体积较大,不便于携带;光路和结构比较复杂,对光源的稳定性要求较高,不适应在线检测。本实用新型包括壳体、位于壳体内的...
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2008年1月9日
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2008年1月23日
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2008年1月9日
23
基于约束频繁模式的天体光谱数据相关性分析方法及系统 [申请号/专利号:200710111689]
申请人/专利权人:太原科技大学
本发明涉及一种天体光谱数据相关性分析方法,用于天体光谱知识的发现。首先对天体光谱数据进行归一化和离散化处理,形成面向天体光谱数据相关性分析的数据集;其次利用背景知识和最...
2007年11月14日
24
户外加速风化装置的全光谱监测 [申请号/专利号:200710109607]
申请人/专利权人:阿特拉斯材料测试技术有限责任公司
用于直接比较自然光源的光谱能量分布和户外加速风化装置目标区域的光谱能量分布的方法,用于比较户外加速风化装置上的光谱测量组件和在同一时刻测量相同光源的可追踪光谱测量组件的...
2007年12月12日
25
光谱极值测温方法 [申请号/专利号:200710071635]
申请人/专利权人:哈尔滨工业大学
光谱极值测温方法,它涉及一种测温方法。本发明解决了目前测量物体温度方法的测量精度低、测量范围窄的问题。本发明方法的步骤如下:被测物体(1)的红外辐射射线(2)经聚光镜(...
2007年7月18日
26
一种激光光谱测量方法 [申请号/专利号:200710048644]
申请人/专利权人:电子科技大学
本发明公开了一种激光光谱测量方法,包括以下步骤:(1)将含有激光光谱信息的激光束全部通过分光器进行分光;(2)将上述步骤中分出的光束分别送入不同波段的光滤波器;(3)采...
2007年8月22日
27
利用啁啾脉冲测量高频信号脉冲序列的方法和装置 [申请号/专利号:200710037266]
申请人/专利权人:中国科学院上海光学精密机械研究所
一种利用啁啾脉冲测量高频信号脉冲序列的方法和装置,主要是利用光参量放大过程中泵浦光与信号光的能量交换,使信号光与探测光进行耦合,由于光参量放大过程是二阶非线性效应,所以...
2007年8月8日
28
染料敏化太阳能电池转换效率及单波长量子效率测量方法 [申请号/专利号:200710022225]
申请人/专利权人:南京大学
染料敏化太阳能电池转换效率及单波长量子效率测量方法,包括如下步骤:定染料敏化纳米薄膜太阳能电池受光面积的大小,搭建平衡电桥补偿电路,得到电流一电压曲线,直接通过计算机程...
2007年11月21日
29
红外光谱辐射定标系统 [申请号/专利号:200710019551]
申请人/专利权人:中国科学院安徽光学精密机械研究所
本发明公开了一种基于探测器红外光谱辐射定标系统,光源和单色仪的入射狭缝之间安装有斩波器,单色仪内部安装有光栅,从出射狭缝出射的光进入避光箱内,经过二个离轴抛物面镜(M1...
2007年8月1日
30
失真测量设备,方法,程序,和记录介质 [申请号/专利号:200710001332]
申请人/专利权人:株式会社爱德万测试
提供了一种失真测量设备,包括记录布里渊散射光的光谱的布里渊散射光光谱记录单元,所述布里渊散射光是作为提供入射光的结果在光纤中生成的;峰值频率近似单元,获取布里渊散射光的...
2007年7月18日
31
用于显微镜图像选择器的方法和装置 [申请号/专利号:200680001758]
申请人/专利权人:凯米映像公司
本公开一般涉及用于同时获得样品(100)的多波长区分光谱图像的多模式成像装置。在一个实施例中,该装置包括:具有旋转器组件的图像选择器(108),该旋转器组件容纳第一组多...
2008年1月2日
32
测量太赫兹时域光谱的设备 [申请号/专利号:200620173227]
申请人/专利权人:清华大学
一种测量太赫兹时域光谱的设备,涉及太赫兹时域光谱领域。该设备包括:第一飞秒激光器,以预定的重复频率从第一飞秒激光器发出第一脉冲激光束,产生太赫兹脉冲;第二飞秒激光器,以...
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34
光谱色彩分析仪 [申请号/专利号:200620136341]
申请人/专利权人:中国兵器工业第二O五研究所
本实用新型公开了一种光谱色彩分析仪,包括照明系统、光电摄谱仪和信号采集与处理系统。主要技术特点是,照明系统采用由标准光源照明的积分球,积分球形成的漫反射光照射样品并由样...
35
多谱线激光器用光谱仪 [申请号/专利号:200620052821]
申请人/专利权人:中国人民解放军国防科学技术大学
本实用新型公开了一种体积小、成本低廉、能够同时探测出光时间很短的多谱线激光器的所有谱线的光谱仪,该多谱线激光器用光谱仪包括壳体、装设于壳体内的扩束装置、色散装置和聚光装...
36
球面光学元件光谱反射率测量装置及方法 [申请号/专利号:200610124377]
申请人/专利权人:姚建政
一种球面光学元件光谱反射率的测量装置及方法,该装置包括光源系统、样品架、接收系统、数据分析处理系统等。其特点是样品架上设有三个钢珠,它们分别位于一平面三角形顶点,被测体...
2007年7月11日
37
采用窄光束标准光源的LED光通量测试装置及测试方法 [申请号/专利号:200610118915]
申请人/专利权人:复旦大学
本发明属于光通量测试领域,涉及采用窄光束标准光源的LED光通量的测试装置及其测试方法。本发明的采用窄光束标准光源的LED光通量的测试系统,包括积分球、光源、窄通光孔径的...
2007年5月9日
38
一种衍射光谱测量系统 [申请号/专利号:200610102110]
申请人/专利权人:李捷
一种衍射光谱测量系统,属于光学测量、光学仪器和教学仪器设备等技术领域,该衍射光谱测量系统由活动式可折叠水平支架A和具有相同水平基面两个底座组成;其特征在于具有相同水平基...
2007年4月11日
39
红外辐射传递标准综合测量系统及其测量方法 [申请号/专利号:200610041990]
申请人/专利权人:中国兵器工业第二O五研究所
本发明公开了一种红外辐射传递标准综合测量系统及其测量方法,该装置在专用光谱响应度测量系统的基础上,增加了光路准直器和一个精密移动平台及相应的标准红外辐射源,并采取共用光...
2006年12月13日
40
光纤光栅门开关状态传感器探头 [申请号/专利号:200610029147]
申请人/专利权人:上海交通大学
本发明涉及一种光纤光栅门开关状态传感器探头,由光纤环行器、圆环骨架、及刻有两个布喇格光栅的掺锗光纤构成,圆环骨架的外围开有凹槽,掺锗光纤上的两个布喇格光栅分别垂直对称固...
2007年3月21日
41
采用面阵光电器件的光谱测量方法与仪器 [申请号/专利号:200610013187]
申请人/专利权人:天津大学
本发明涉及科学仪器,尤其是一种光谱仪器,具体讲涉及采用面阵光电器件的光谱测量方法与仪器。为提供大幅度提高采用CCD等线性阵列光电传感器的光谱仪的灵敏度的方法及仪器,本发...
2006年8月2日
42
提高光谱仪灵敏度的方法及其实施装置 [申请号/专利号:200610013164]
申请人/专利权人:天津大学
本发明涉及物理光学领域、光谱仪器,具体讲涉及提高光谱仪灵敏度的方法及其实施装置。为提供一种大幅度提高采用CCD等线性阵列光电传感器的光谱仪的灵敏度的方法及其实施装置,本...
2006年9月13日
43
校准光谱仪的方法 [申请号/专利号:200580043683]
申请人/专利权人:福斯分析公司
本发明提供了基于光谱仪内自然存在的大气成分的光谱图来校准红外光谱仪的方法。本发明还提供了应用该方法的光谱仪。该方法在所记录光谱内选择光谱图,并确定用于一特性的,取决于波...
2007年12月5日
44
利用多元光学元件的光学分析校准 [申请号/专利号:200580043017]
申请人/专利权人:皇家飞利浦电子股份有限公司
本发明提供了一种校准光学分析系统的方法,所述光学分析系统利用了多元光信号分析,其能够实现光信号的光谱分析的经济有效的、鲁棒的实施。所述校准方法利用了通过光学分析系统确定...
2007年11月28日
45
具有可更新测量算法的存储卡的仪器及相关方法 [申请号/专利号:200580035500]
申请人/专利权人:拜尔健康护理有限责任公司
一种适于将更新的信息提供给仪器的处理器的编程片。该仪器适于确定分析物的浓度。该编程片包含非易失存储器和通信总线。非易失存储器适于存储更新信息并适于与仪器的处理器通信连接...
2007年9月26日
46
用于样品的平面测量的测量头 [申请号/专利号:200580032757]
申请人/专利权人:数据色彩控股股份公司
本发明的测量头把光从外部的源,通过至少一根光纤,传送到测量头中至少一个相应的平面反射镜,光通过反射镜被反射并被至少一个准直透镜准直,入射到样品上,在一个实施例中,是以基...
2007年9月5日
47
用于光谱分析的基于透射的成像 [申请号/专利号:200580028915]
申请人/专利权人:皇家飞利浦电子股份有限公司
本发明提供一种光谱系统、一种用于光谱系统的基于透射的成像系统、以及用于光谱系统的基于透射的成像系统的探头和相应的基于透射的成像方法。该光谱系统优选地可应用到体内非侵入性...
2007年8月1日
48
用于光谱分析的像差校正 [申请号/专利号:200580020590]
申请人/专利权人:皇家飞利浦电子股份有限公司
本发明提供一种光谱系统(100),用于确定人体的感兴趣的体积(120)中生物结构的特性。该光谱系统(100)包括一个低成本物镜(118),用于引导激励光束至感兴趣的体积...
2007年5月30日
49
全光谱、双CMOS线性成像传感器检测装置 [申请号/专利号:200520026473]
申请人/专利权人:天津麦索特科技发展有限公司
一种全光谱、双CMOS线性成像传感器检测装置,其特征在于它是光学成像镜头、三膜系分光棱镜,双高速线阵CMOS成像传感器组成的光学成像系统。本实用新型的优越性在于:采用颜...
50
一种光谱解析校正的积分式光辐射度测量系统 [申请号/专利号:200520013559]
申请人/专利权人:潘建根
一种光谱解析校正的积分式光辐射度测量系统,属于光和辐射测量技术领域。其特征在于积分球上分别设置探头安装孔和光纤耦合孔,通过探头、光纤分别与光谱分析仪相连,光谱分析仪与计...
 
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