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专利号:00258993
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电子晶体测试头
本实用新型涉及一种电子测试装置,特别是一种电子晶体测试头,其特征在于它包括一个设于底座上的移动板,在移动板的一端连接一测试片压板底板,一个压板连接在测试片压板底板的另一端;定位板底座垂直于底板且设有凹槽,标准测试板由螺钉固定在定位板底座的垂直面上;定位板设在定位板底座的顶部,定位板底座上连接有一个外接负载板。本实用新型结测试精确度高,测试片更换容易,可用同一测试头实现两种测试方法。

电子晶体测试头

一种电子晶体测试头,它包括一个底座(1)、一个定位板(9)、一个标准测试板(14)和测试片(19),其特征在于它还包括一个设于底座(1)上的移动板(2),在移动板(2)的一端连接一测试片压板底板(6),一个压板(8)连接在测试片压板底板(6)的另一端;所述的定位板底座(12)垂直设置在底板(1)的一端且在定位板底座(12)上设有凹槽(10),所述的标准测试板(14)由螺钉固定在定位板底座(12)的垂直面上;所述定位板(9)设在定位板底座(12)的顶部,在所述定位板(9)上还设有晶体插孔(16);在所述的定位板底座(12)上连接有一个外接负载板(20)。
 


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专利号: 00258993
申请日: 2000年10月26日
公开/公告日:
授权公告日: 2001年9月19日
申请人/专利权人: 港科电子(深圳)有限公司
国家/省市: 深圳(94)
申请人地址: 广东省深圳市福田区八卦五街544栋5-6楼西
邮编: 518029
发明/设计人: 刘革奇、吴立勤
代理人: 王雄杰
专利代理机构: 深圳市专利服务中心(44101)
专利代理机构地址: 广东省深圳市深南中路18号(518031)
专利类型: 发明
公开号: 0000000
公告日: 2001年9月19日
授权日: 20
公告号: 2449239
优先权:
审批历史:
附图数: 2
页数: 3
权利要求项数: 4
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