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专利号:200710146401
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溅射沉积装置和方法

本发明涉及一种溅射沉积装置和方法,及用于溅射沉积装置的衬底支持物。根据本发明的一方面,提供一种溅射沉积装置,包括:至少一个溅射靶,第一等离子体,衬底支持物,和另一等离子体。优选,此另一等离子体为ECWR等离子体。根据另一方面,在另一等离子体和此衬底支持物之间提供阳极。根据又另一方面,衬底支持物包括具有变化厚度的介电层。

溅射沉积装置和方法

一种溅射沉积装置,包括:    至少一个溅射靶;    第一等离子体;    衬底支持物;和    另一等离子体。
 


  
专利号: 200710146401
申请日: 2007年6月22日
公开/公告日: 2008年4月9日
授权公告日:
申请人/专利权人: 奇梦达股份公司
国家/省市: 联邦德国(DE)
邮编:
发明/设计人: K·-D·尤弗特
代理人: 余刚 李丙林
专利代理机构: 北京康信知识产权代理有限责任公司(11240)
专利代理机构地址: 北京市西城区金融大街33号通泰大厦B402室(100032)
专利类型: 发明
公开号: 101158027
公告日:
授权日:
公告号: 000000000
优先权: 美国2006年6月23日11/473441联邦德国2006年6月23日102006028977.3
审批历史:
附图数: 5
页数: 10
权利要求项数: 3
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