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| 本发明公开了一种用于测量受试器件（ＤＵＴ）内偏振模色散（ＰＭＤ）的装置，包括偏振光源，用于经ＤＵＴ发射测试光束；以及ＰＭＤ分析仪，它采用多种已知技术中的一种，如固定分析仪－傅立叶变换（ＦＡ－ＦＴ）或干涉仪式，以计算ＤＵＴ引起的ＰＭＤ。在光源与ＰＭＤ分析仪之间布置有由多个双折射元件组成的无源消偏器，以生成多个对应于双折射元件所施加时延的载波频率。ＤＵＴ的ＰＭＤ成分存在于每个载波周围，可以对多个ＰＭＤ测量值取平均来获得更为精确且可再现的ＰＭＤ测量值。 |
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测量偏振模色散
一种用于测量光学受试器件ＤＵＴ的偏振模色散ＰＭＤ的装置，所述测量装置包括： 偏振光源，其用于经所述ＤＵＴ发出具有偏振状态的光测试信号； 光消偏振装置，其在所述偏振光源与所述光学器件之间，所述光消偏振装置包括： 第一双折射元件，其具有与所述光测试信号的所述偏振状态成锐角的欧拉轴；以及 第二双折射元件，其具有与所述第一双折射元件的所述欧拉轴及所述光测试信号的所述偏振状态均成锐角的欧拉轴； 因此，所述光测试信号包含与所述第一和第二双折射元件所引发时延相关的多个载波分量；以及 分析装置，其用于通过对所述多个载波分量取ＰＭＤ平均值的方式计算所述ＤＵＴ的平均ＰＭＤ。
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