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专利号:200810112421
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一种存储器抗单粒子翻转的纠错检错方法

一种存储器抗单粒子翻转的纠错检错方法,步骤为:(1)从CPU接收K位信息数据;(2)生成与K位信息数据对应的N位校验数据A;(3)将K位信息数据和N位校验数据A存入存储器;(4)从存储器中读出所述K位信息数据,并采用步骤(2)方法重新生成与K位信息数据对应的N位校验数据B;(5)将校验数据A和校验数据B进行异或运算,得到校正子;(6)通过校正子定位信息数据和校验数据A中的错误,若产生一位或两位数据错误,则纠正数据错误并输出正确的数据;若产生三位或可检测的三位以上的数据错误,则提示产生不可纠正错误。该方法纠错能力强、操作简单,可对单粒子效应引起的存储器一位或两位错误进行有效纠检。

一种存储器抗单粒子翻转的纠错检错方法

一种存储器抗单粒子翻转的纠错检错方法,其特征在于步骤如下:    (1)从CPU接收K位信息数据;    (2)生成与所述K位信息数据对应的N位校验数据A;    (3)将所述K位信息数据和所述N位校验数据A存入存储器;    (4)从存储器中读出所述K位信息数据,并采用步骤(2)方法重新生成与所述K位信息数据对应的N位校验数据B;    (5)将校验数据A和校验数据B进行异或运算,得到校正子;    (6)通过校正子定位信息数据和校验数据A中的错误,若产生一位或两位数据错误,则纠正数据错误并输出正确的数据;若产生三位或可检测的三位以上的数据错误,则提示产生不可纠正错误。
 


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专利号: 200810112421
申请日: 2008年5月23日
公开/公告日: 2008年10月8日
授权公告日:
申请人/专利权人: 北京时代民芯科技有限公司、中国航天时代电子公司第七七二研究所
国家/省市: 北京(11)
邮编: 100076
发明/设计人: 郝丽、于立新、苏天红、彭和平
代理人: 安丽
专利代理机构: 航空航天工业部航天专利事务所(11009)
专利代理机构地址: 北京市和平里滨河路1号(100013)
专利类型: 发明
公开号: 101281481
公告日:
授权日:
公告号: 000000000
优先权:
审批历史:
附图数: 1
页数: 7
权利要求项数: 2
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