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专利号:200810116336
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一种适用于2D-CT扫描系统的投影旋转中心测量方法

本发明公开了一种适用于二维CT扫描系统投影旋转中心的测量,是针对基于线阵探测器的2D-CT(Two Dimensional Computed Tomography)扫描成像系统投影旋转中心的测量,可用于医学和工业领域射线数字成像(DR-Digital Radiography)、二维、三维计算机断层扫描(2D-CT/3D-CT)成像过程中的相关测量。是利用了扇形束射线扫描二维CT的投影对称性原理来测量投影旋转中心点的位置Q(S↓[o],0)。具有操作简单、测量精度高等特性。

一种适用于2D-CT扫描系统的投影旋转中心测量方法

一种适用于2D-CT扫描系统的投影旋转中心测量方法,其特征在于:射线源(11)出射的中心射线(7)过扫描台(5)的扫描台旋转中心点(2)且交于线阵探测器(3)上一点Q,该交点Q就是扫描台旋转中心点(2)在线阵探测器(3)上的投影点,称为投影旋转中心点(4);要精确测量扫描台(5)的扫描台旋转中心点(2)在线阵探测器(3)上的投影旋转中心点(4)的位置执行下列步骤:    第一步:采集数据得到第一正弦图、第二正弦图;    第二步:将第二正弦图与第一正弦图中投影角相差180°的行对应相减,并取绝对值,得到N行相减后的投影数据e(θ↓[i],s),即    e(θ↓[i],s)=|P↓[1](θ↓[i],s)-P↓[2](β↓[i],s)|  i=1,2,3……N,s∈[1,M]  (1)    i表示正弦图中的行数,    s表示在线阵探测器(3)的坐标so′t系下的s轴,M表示坐标so′t系下s轴的数据,    θ↓[i]表示第一投影角,β↓[i]表示第二投影角,且第一投影角θ↓[i]与第二投影角β↓[i]之间相差180°,    P↓[1](θ↓[i],s)表示第一正弦图中的投影数据,    P↓[2](β↓[i],s)表示第二正弦图中的投影数据,    第三步:对N行相减后的投影数据e(θ↓[i],s)中的每个列数据求平均,即获得最小投影点mean(s),即    mean(s)=1/N*e(θ↓[i],s),s∈[1,M]  (2)    第四步:依据最小投影点mean(s)求取被测物体(88)的投影区域内的最小点坐标Q(S↓[o],0),即    Q(S↓[o],0)=min{mean(s)}  (3)。
 


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专利号: 200810116336
申请日: 2008年7月9日
公开/公告日: 2008年11月12日
授权公告日:
申请人/专利权人: 北京航空航天大学
国家/省市: 北京(11)
邮编: 100083
发明/设计人: 李保磊、杨民、刘静华、吴文晋、王钢
代理人: 周长琪
专利代理机构: 北京市第九专利代理事务所(11121)
专利代理机构地址: 北京市海淀区学院路37号(100083)
专利类型: 发明
公开号: 101303225
公告日:
授权日:
公告号: 000000000
优先权:
审批历史:
附图数: 4
页数: 7
权利要求项数: 2
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