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专利号:97190606
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半导体器件

本发明的目的是在具有强电介质电容器的半导体器件中,减小强电介质电容器的特性离散,且把该强电介质电容器的特性变动,即把时间的流驶所伴生的特性退化抑制为很小。本方案是:用具有以沿第1方向D1延伸并与该第1方向垂直的第2方向D2为宽度方向的平面形状的下部电极111a,在该下部电极111a上边被配置为相向的多个上部电极112a,和配置在该两电极间的强电介质层,构成强电介质电容器110a,且把该上部电极112a的平面形状做成为上述第1方向D1上的尺寸比上述第2方向上的尺寸小的形状。

半导体器件

一种半导体器件,其特征是: 具备: 具有沿第1方向延伸且以与该第1方向垂直的第2方向为宽度方向的平面形状的第1电极; 被配置为与该第1电极相向、且具有上述第1方向上的尺寸和上述第2方向上的尺寸相等的平面形状、或者具有上述第1方向上的尺寸比上述第2方向上的尺寸短的平面形状的第2电极;以及 配置在上述第1电极与上述第2电极之间的强电介质层, 用上述第1、第2电极及该两电极间的强电介质层构成强电介质电容器。
 


  
专利号: 97190606
申请日: 1997年4月18日
公开/公告日: 1998年9月30日
授权公告日: 2004年3月17日
申请人/专利权人: 松下电器产业株式会社
国家/省市: 日本(JP)
邮编:
发明/设计人: 平野博茂、竹尾昌人
代理人: 王永刚
专利代理机构: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所(11038)
专利代理机构地址: 北京市阜成门外大街2号8层(100037)
专利类型: 发明
公开号: 1194723
公告日:
授权日: 20
公告号: 1142587
优先权: 日本1996年4月19日98267/96
审批历史:
附图数: 11
页数: 27
权利要求项数: 0
国际公布号: WO97/40531
国际公布日: 1997年10月30日
国际公布语言:
国际申请号: PCT/JP97/01347
国际申请日: 1997年4月18日
进入国家阶段日: 1998年1月23日
PCT:
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