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GDJD-600型高、低温介电性能测量系统

   
GDJD-600型高、低温介电性能测量系统
 
发布时间:2018-07-12 14:58
地  区:北京>北京市
公  司:北京圆通科技新技术发展有限公司
联 系 人:谢伟华
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详细说明
 GDJD-600型高、低温介电性能测量系统        
   
规  格: 型  号: 数  量:
品  牌: 包  装: 价  格:

GDJD-600型高低温介电性能测量系统

 

GDJD-600型高低温介电性能测量系统(四通道测试,同时测试4个样品) 

关键词:高低温介电测量仪,高、低温介电测量系统, 


产品介绍: 

   GDJD-600型高温介电性能测量系统主要应用于高低温下材料的介电性能测 

试与分析,包括介电常数、介电损耗、电容等参数,同时测试出测试材料的其 

他阻抗参数,广泛应用于陶瓷材料、半导体器件及功能薄膜材料等研究 。 

一、产品优势: 

1.实现室温-140°C-800°C的低高温介电转换测量 

2.四通道测试,可以同时测试1-4个样品,方便快捷 

3.数据分析软件:提供多种扫描曲线,可以在多窗口之间切换数据 

二、《符合ASTMD150和 D2149-97国际标准>> 

<<符合GB/T1409-2006介电常数和介电损耗的推荐方法;》 

三、产品特点

1.可以在低高温、宽频、真空条件下测量固体、薄膜样品的介电性能; 

2.可以分样品的频率谱、温度谱、偏压谱、阻抗谱、介电谱、时间谱等测量功能; 

3.可以测量样品的介电常数、介电损耗,电容C,损耗D,电感L,品质因数Q,阻抗Z等物理量;以实现介电常数和介电损耗随多个温度、多个频率变化的曲线,时间和电压变化的曲线; 

4、可提供块体,薄膜,单样品,四样品夹具,满足不同测试要求。 

主要技术指标: 

测量温度: -160°C-800°C 

升温斜率:2°C /min

频率范围:20-30MHZ 

精度:0.05% 

测量精度: ±0.1°C 

控温精度:±1°C(PID精准控温) 

高温样品杆:耐高温、1000°C不氧化,电极阻抗低、绝缘好 

测试方法:两线法或四线法 

测试通道数:1-4通道 

一次可测样品数:1-4个样品 

样品尺寸:直径小于2-10mm,厚度小于1-10mm,样品放置位置灵活,可快捷安装和拆卸 

测量精度:0.05% 

AC电平:  0V 到 1V rms 

直流偏压:0到±40V/100mA 

数据存储:EXCEL表格等多种格式 

加热方式:电阻丝加热 

真空度范围:100 Pa-1大气压 

电极材料:铂金 

数据传输:4个USB接口 

仪器通讯:USB或GPIB 

 

   
GDJD-600型高、低温介电性能测量系统
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