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美国Hinds双折射(应力)测量系统 EXICOR-SYSTERMS

   
美国Hinds双折射(应力)测量系统 EXICOR-SYSTERMS
 
发布时间:2021-04-27 10:33
地  区:世界各国/地区>美国
公  司:北京昊然伟业光电科技有限公司
联 系 人:Gloria Yang
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移动电话: 18519585532
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详细说明
 美国Hinds双折射(应力)测量系统 EXICOR-SYSTERMS        
   
规  格: 型  号: 数  量:
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双折射(应力)测量系统 EXICOR-SYSTERMS1.JPG


概述



Exicor®双折射测量技术于1999年推出,型号为150AT,为领先的客户提供世界上技术先进,具生产价值的测量双折射的能力。Exicor系统的前所未有的灵敏度是Hinds Instruments的PEMLabs™技术的产品,该技术率先推出了超低双折射光弹性调制器(PEM)。PEM的调制纯度增强了Exicor屡获殊荣的灵敏度,这是调制器的谐振特性的结果。 PEM的调制频率为50 kHz,提供快速测量功能。双检测器光学系统的独特设计与PEM科学相结合,提供了一个重要特性:光学系统中没有移动部件。 移动部件的缺失产生高机械可靠性以及测量的可重复性,并允许同时测量幅度和角度。Exicor测量通过正在研究的光学样品沿着光路积分的延迟。它旨在测量并显示延迟轴的大小和方向。独特的设计(专利申请中)消除了光学系统中的移动部件,并避免了在测量角度之间切换的必要性。 氦氖激光束被偏振,然后被PEM调制。 调制后的光束通过样品传输并分配一个分光镜。 每束光束通过分析仪、光学滤光片和光电探测器的组合。 电子信号通过一个锁定放大器处理,提供非常低的信号检测。


由Hinds仪器公司开发的软件算法将来自电子模块的信号电平转换为可以确定线性双折射的参数。计算机从两个输入中选择,允许从两个信号通道进行连续测量。 分析数据,然后显示延迟大小和轴角度并存储在文件中。 当在自动映射模式下操作时,x-y平移阶段将把样本移动到下一个预定的测量位置。 结果以用户指定的格式即时显示。



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EXICOR故事



多年来,交叉偏振器代表了双折射测量技术的新水平,研究人员以及质量控制专业人员都可以使用。虽然这个1或2 nm的灵敏度水平有时足够了,“像素”量化,计量水平重复性和统计数据分析能力缺失。 Hinds 仪器公司的科学家利用光弹性调制技术的二十多年经验,将这个相对快速(50 kHz),非机械,几乎纯正弦的“偏振切换器”应用于双折射测量挑战。与传统测量方法相比,现在获得专利的结果是测量灵敏度数量级的两倍,有时甚至提高了三倍。这项技术已被广泛发布和记录。交钥匙式Exicor系统使双折射测量变得直观和简单。它的个软件允许对双折射数据进行多重视图和统计分析。


1998年,开发基于PEM的双折射测量系统,用于光学材料中的低水平残余双折射。
1999, 推出ExicorTM双折射测量系统,提供突破性的低水平(0.005 nm)双折射能力。
2000,Exicor获得CLEO 2000新产品奖。,
2001,Exactor 150AT型号获得2000年光子学卓越奖。
2001, Exicor获得2001年度R&D 100奖。
2003, Exicor DUV获得2003年度R&D 100奖。
2013, Exicor 450XT Mueller偏振计获得2013年度R&D 100奖





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美国Hinds双折射(应力)测量系统 EXICOR-SYSTERMS
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