半导体推拉力测试机大行程，是半导体微电子高端精密检测设备，广泛应用于芯片封装工艺测试和产品使用失效可靠性分析。整机由控制系统、高精密传感器（模组）、测试平台等组件构成。
内置进口高精度传感器、无需手动更换模组，可根据应用搭配拉力、剥离、下压、推力（剪切力）传感器模组平台可共享各种夹具，包括下压夹具、对夹夹具、光通讯夹具等，夹具可360度旋转，搭配高清双目（1-60）变倍显微镜，可有效减少人员视觉疲劳，操纵杆可轻松控制XYZ三轴操作和工具旋转，并配有12个按钮控制主要软件功能，操作简便、测试轻松。
半导体推拉力测试机大行程设备型号：LB-8600
外形尺寸：660mm*610mm*800mm（含左右操作手柄）660*610*800
设备重量：约 95KG
电源供应：110V/220V@3.0A 50/60HZ
气压供应：4.5-6Bar
控制电脑：联想/惠普原装PC
电脑系统：Windows7/Windowsl0 正版系统
显微镜：标配高清连续变倍显微镜（可选配三目显微镜+高清CCD相机）
传感器更换方式：自动更换（在软件选择测试项目后，相应传感器自动至测试工位）
平台治具：360度旋转，平台可共用各种测试治具
XY轴丝杆有效行程：100mm*100mm 配真空平台可拓展至200mm*200mm，大测试力100KG
XY轴大移动速度：采用霍尔摇杆对XY轴自由控制，大移动速度为6mm/S
XY轴丝杆精度：重复精度±5um 分辨率≤0.125 ： 2mm以内精度±2um
Z轴丝杆有效行程：100mm 分辨率≤0.125um,大测试力20KG
Z轴大移动速度：采用霍尔摇杆对Z轴自由控制，大移动速度为8mm/S
Z轴丝杆精度：±2um 剪切精度2mm以内精度±lum
传感器精度：传感器精度土0.003%：综合测试精度土0.25%
设备治具：根据样品或图纸按产品设计治具（出厂标配一套）
设备校正：设备出厂标配相应校正治具及砝码一套
质量保证：设备整机质保2年，软件身免费升级（人为损坏不含）
