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钱眼专利首页 > 除掺杂或其他杂质外，只包含AⅣBⅣ化合物的，如SiC 的专利共 1 条
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采用碳化硅进行红外辐射检测的方法和电路　[申请号/专利号：00807852]
申请人/专利权人：希脱鲁尼克斯
将最好为单晶形式的碳化硅（６）用作具有高温和高功率性能的红外辐射探测器。其应用包括探测来自获取辐射源（２）的功率或能量。...
2002年5月29日
 

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