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专利号:200480020874
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透明导电氧化物

提出了一种由金属靶沉积透明导电膜的方法。根据本发明实施方案形成透明导电氧化物膜的方法包括:用衬底偏压,由脉冲DC反应离子工艺沉积透明导电氧化物膜,并且控制至少一个工艺参数以影响导电氧化物膜的至少一种特性。得到的透明氧化物膜,其在某些实施方案中可以是铟-锡氧化物膜,可以根据工艺参数的改变而显示各种各样的材料性质。例如,改变工艺参数可以导致膜具有各种各样抵抗性质和膜的表面光滑度。

透明导电氧化物

一种形成透明导电氧化物膜的方法,该方法包括:    用衬底偏压,由脉冲DC反应离子工艺沉积透明导电氧化物膜;和    控制至少一个工艺参数以提供导电氧化物膜的至少一种在一个特定值下的特性。
 


  
专利号: 200480020874
申请日: 2004年5月21日
公开/公告日: 2006年8月30日
授权公告日:
申请人/专利权人: 希莫菲克斯公司
国家/省市: 美国(US)
邮编:
发明/设计人: 理查德·欧内斯特·德马雷、穆昆丹·纳拉辛汉
代理人: 程金山
专利代理机构: 中科专利商标代理有限责任公司(11021)
专利代理机构地址: 北京市海淀区海淀路80号中科大厦16层(100080)
专利类型: 发明
公开号: 1826423
公告日:
授权日: 20
公告号: 0000000
优先权: 美国2003年5月23日60/473,379
审批历史:
附图数: 9
页数: 14
权利要求项数: 2
国际公布号: WO2004/106581
国际公布日: 2004年12月9日
国际公布语言:
国际申请号: PCT/US2004/014523
国际申请日: 2004年5月21日
进入国家阶段日: 2006年1月19日
PCT:
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