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专利号:200480024191
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形成独立半导体层的方法

一种在常规SOI或体衬底硅器件上提供独立半导体层(26)的方法,包括在单晶基础结构(20)上形成无定形或多晶心轴(22)。然后在心轴(22)上和基础结构(20)上形成保形多晶半导体层(24),其中所述多晶层(24)接触所述基础结构(20)。然后重结晶所述多晶半导体层(24),以使它具有与所述基础结构(20)基本相似的结晶性。这样,形成了对其厚度和高度具有高度控制并保持厚度一致性的独立半导体层(26)。

形成独立半导体层的方法

一种形成独立半导体层的方法,包括以下步骤:    a)在单晶基础结构上形成非单晶心轴;    b)在所述心轴的至少一个侧壁上形成保形多晶半导体层,所述多晶层接触所述单晶基础结构;以及    c)重结晶所述多晶半导体层,以具有与所述基础结构基本上类似的结晶性。
 


  
专利号: 200480024191
申请日: 2004年6月25日
公开/公告日: 2006年9月27日
授权公告日:
申请人/专利权人: 国际商业机器公司
国家/省市: 美国(US)
邮编:
发明/设计人: B·A·安德森、E·J·诺瓦克、B·雷尼
代理人: 于静 李峥
专利代理机构: 中咨律师事务所(11247)
专利代理机构地址: 北京市朝阳区朝外大街20号联合大厦901室(100020)
专利类型: 发明
公开号: 1839466
公告日:
授权日: 20
公告号: 0000000
优先权: 美国2003年6月26日10/604,116
审批历史:
附图数: 3
页数: 7
权利要求项数: 3
国际公布号: WO2005/001904
国际公布日: 2005年1月6日
国际公布语言:
国际申请号: PCT/US2004/020552
国际申请日: 2004年6月25日
进入国家阶段日: 2006年2月22日
PCT:
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