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专利号:200580018592
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透明导电膜、透明导电膜制造用烧结体靶、透明导电性基材以及使用其的显示装置

本发明提供一种非晶质、且在可见光短波长区的光透射率高、对弯曲不易破裂的透明导电膜。本发明的透明导电膜为由Ga、In和O构成的非晶质氧化物膜,相对全部金属原子含有35原子%以上、45原子%以下的Ga,比电阻为1.2×10↑[-3]Ω·cm以上、8.0×10↑[-3]Ω·cm以下,膜厚为500nm以下,在波长380nm下的光透射率为45%以上。

透明导电膜、透明导电膜制造用烧结体靶、透明导电性基材以及使用其的显示装置

一种透明导电膜,其为由Ga、In和O构成的非晶质氧化物膜,其特征在于,相对全部金属原子含有35原子%以上、45原子%以下的Ga,比电阻为1.2×10↑[-3]Ω·cm以上、8.0×10↑[-3]Ω·cm以下,膜厚为500nm以下,在波长380nm下的光透射率为45%以上。
 


  
专利号: 200580018592
申请日: 2005年6月6日
公开/公告日: 2007年5月16日
授权公告日:
申请人/专利权人: 住友金属矿山株式会社
国家/省市: 日本(JP)
邮编:
发明/设计人: 中山德行、阿部能之
代理人: 刘新宇
专利代理机构: (11277)
专利代理机构地址: ()
专利类型: 发明
公开号: 1965376
公告日:
授权日: 20
公告号: 0000000
优先权: 日本2004年6月7日168868/2004
审批历史:
附图数: 3
页数: 17
权利要求项数: 2
国际公布号: WO2005/122186
国际公布日: 2005年12月22日
国际公布语言:
国际申请号: PCT/JP2005/010358
国际申请日: 2005年6月6日
进入国家阶段日: 2006年12月7日
PCT:
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