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专利号:200710058715
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快速探测宽谱面光谱的方法

本发明属于光栅摄谱仪快速探测宽谱面光谱的技术,本发明的快速探测宽谱面光谱的方法,包括多个CCD器件拼接探测光栅摄谱仪宽阔谱面的光谱、同步并行数据采集技术和三维显示不同时段光谱的技术。是在光栅摄谱仪的谱面位置安装由多个线阵CCD器件首尾交错拼接,并使前面CCD的末尾像元与后面CCD的首像元在垂直像元排列方向上重合。拼接时使两行线阵CCD像敏阵列的中心距小于等于12mm,拼接起来的探测器在240mm宽的范围内探测谱线高度超过12mm高的光谱。不仅含有线阵CCD器件按机械拼接方式实现无缝拼接的技术、多路并行数据采集的技术还包括以三维空间图像显示方式显示所采光谱的技术。而且能够探测不同时间段光谱的变化和同一时刻谱面各光谱的强度。

快速探测宽谱面光谱的方法

一种快速探测宽谱面光谱的方法,包括光栅摄谱仪和多个CCD器件;其特征是在光栅摄谱仪的谱面位置安装由多个线阵CCD器件,线阵CCD采用首尾交错拼接,并使前面CCD的末尾像元与后面CCD的首像元在垂直像元排列方向上重合。
 


  
专利号: 200710058715
申请日: 2007年8月10日
公开/公告日: 2008年3月5日
授权公告日:
申请人/专利权人: 天津市耀辉光电技术有限公司
国家/省市: 天津(12)
邮编: 300190
发明/设计人: 王庆有
代理人: 王丽
专利代理机构: 天津大学专利代理事务所(12201)
专利代理机构地址: 天津市南开区卫津路92号天津大学19楼(300072)
专利类型: 发明
公开号: 101135589
公告日:
授权日:
公告号: 000000000
优先权:
审批历史:
附图数: 2
页数: 5
权利要求项数: 1
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