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专利号:200710100835
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半导体集成电路

一种半导体集成电路,包括:第一外部端子,输入测试信号;第二外部端子,外部输入时钟信号;自测电路,基于通过第二外部端子输入的时钟信号进行自测;第三外部端子,将从该自测电路输出的测试判断信号输出至外部;外部输出控制电路,基于通过第一外部端子输入的测试信号和从该自测电路输出的测试完成信号,控制从第三外部端子的测试判断信号的输出;以及时钟信号输入控制电路,基于测试判断信号和测试完成信号,控制通过第二外部端子输入的时钟信号向该自测电路的输入。

半导体集成电路

一种半导体集成电路,包括:    第一外部端子,输入测试信号;    第二外部端子,外部输入时钟信号;    自测电路,基于通过第二外部端子输入的时钟信号进行自测;    第三外部端子,将从该自测电路输出的测试判断信号输出至外部;    外部输出控制电路,基于通过第一外部端子输入的测试信号和从该自测电路输出的测试完成信号,控制从第三外部端子的测试判断信号的输出;以及    时钟信号输入控制电路,基于测试判断信号和测试完成信号,控制通过第二外部端子输入的时钟信号向该自测电路的输入。
 


  
专利号: 200710100835
申请日: 2007年4月20日
公开/公告日: 2007年10月24日
授权公告日:
申请人/专利权人: 松下电器产业株式会社
国家/省市: 日本(JP)
邮编:
发明/设计人: 盐田良治
代理人: 黄小临 王志森
专利代理机构: 柳沈知识产权律师事务所(11105)
专利代理机构地址: 北京市朝阳区北辰东路8号汇宾大厦A0601(100101)
专利类型: 发明
公开号: 101059551
公告日:
授权日: 20
公告号: 000000000
优先权: 日本2006年4月20日116792/06
审批历史:
附图数: 3
页数: 6
权利要求项数: 2
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