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专利号:200710109542
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薄膜半导体器件、薄膜晶体管以及薄膜晶体管的制造方法

本发明涉及薄膜半导体器件、薄膜晶体管以及薄膜晶体管的制造方法。横向双极晶体管(100)包括在形成在绝缘基片(101)上的半导体薄膜(105)中形成的发射极(102)、基极(103)和集电极(104),在该横向双极晶体管(100)中,半导体薄膜(105)是在预定方向上晶化的半导体薄膜。而且,MOS-双极混合晶体管(200)在形成在绝缘基片上的半导体薄膜中形成,在该MOS-双极混合晶体管(200)中,半导体薄膜(205)是在预定方向上晶化的半导体薄膜。

薄膜半导体器件、薄膜晶体管以及薄膜晶体管的制造方法

一种薄膜半导体器件,包括:    至少一个MOS晶体管,所述MOS晶体管包括在形成在绝缘基板上的半导体薄膜中形成的源区、沟道区和漏区,还包括通过绝缘膜形成在所述沟道区表面上的栅电极;和    至少一个横向双极晶体管,所述横向双极晶体管包括在与所述MOS晶体管相同的绝缘基板上形成的半导体薄膜中形成的发射极、基极和集电极。
 


  
专利号: 200710109542
申请日: 2007年6月25日
公开/公告日: 2008年1月2日
授权公告日:
申请人/专利权人: 株式会社液晶先端技术开发中心
国家/省市: 日本(JP)
邮编:
发明/设计人: 河内玄士朗
代理人: 王英
专利代理机构: 永新专利商标代理有限公司(72002)
专利代理机构地址: 香港九龙尖沙咀东部科学馆道1号康宏广场南座18楼1805-6室()
专利类型: 发明
公开号: 101097926
公告日:
授权日: 20
公告号: 000000000
优先权: 日本2006年6月26日175473/2006
审批历史:
附图数: 26
页数: 23
权利要求项数: 2
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