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专利号:200720032066
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一种成像光谱测量装置

本实用新型涉及一种成像光谱测量装置,尤其是一种对空间目标进行探测的成像光谱测量装置。本实用新型的技术解决方案是:本实用新型为一种成像光谱测量装置,该装置包括光谱成像相机,还包括有与光谱成像相机连接的光路测量补偿装置,该光路测量补偿装置包括反射镜和可变形镜DM,可变形镜DM设置在光谱成像相机的入射光路上,反射镜设置在可变形镜DM的入射光路上。本实用新型的目的在于提供一种成像光谱测量装置,解决背景技术中大气抖动、大气散射等使测量结果误差大的技术问题。

一种成像光谱测量装置

一种成像光谱测量装置,包括光谱成像相机,其特征在于:该装置还包括有与光谱成像相机连接的光路测量补偿装置,该光路测量补偿装置包括反射镜和可变形镜DM,所述可变形镜DM设置在光谱成像相机的入射光路上,所述反射镜设置在可变形镜DM的入射光路上。
 


  
专利号: 200720032066
申请日: 2007年6月18日
公开/公告日:
授权公告日: 2008年5月14日
申请人/专利权人: 中国科学院西安光学精密机械研究所
国家/省市: 西安(87)
邮编: 710119
发明/设计人: 相里斌、李霞、赵建科、袁艳
代理人: 商宇科
专利代理机构: (61211)
专利代理机构地址: ()
专利类型: 发明
公开号: 000000000
公告日: 2008年5月14日
授权日: 2008年5月14日
公告号: 201060052
优先权:
审批历史:
附图数: 1
页数: 3
权利要求项数: 1
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