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专利号:200720108258
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一种快速光谱仪

本实用新型涉及一种快速光谱仪,包括一个用于测量待测光源光谱功率分布的快速光谱解析系统,在快速光谱解析系统上连接有用于采集光信号并将其传送至快速光谱解析系统的光信号采集装置,所述的快速光谱解析系统与微控制器电连接,其特征在于,它还包括一个用于测量待测光源光度量或辐射度量的参考探头,该参考探头通过一个可将模拟信号转换为数字信号的信号转换电路与上述的微控制器电连接。本实用新型利用参考探头实现大跨度动态范围内光度量或辐射度量的线性测量,并且利用分光法的测量结果,将探头的测量结果校正为精确值。在电脑中存储有各种已知的标准值,以便于在校正时调用,对测量值进行校正,因此,能够有效地提高测量精度。

一种快速光谱仪

一种快速光谱仪,包括一个用于测量待测光源光谱功率分布的快速光谱解析系统(1),在快速光谱解析系统(1)上连接有用于采集光信号并将其传送至快速光谱解析系统(1)的光信号采集装置(2),所述的快速光谱解析系统(1)与微控制器(3)电连接,其特征在于,它还包括一个用于测量待测光源光度量或辐射度量的参考探头(4),该参考探头(4)通过一个信号转换电路(5)与上述的微控制器(3)电连接。
 


  
专利号: 200720108258
申请日: 2007年4月17日
公开/公告日:
授权公告日: 2008年3月12日
申请人/专利权人: 杭州远方光电信息有限公司
国家/省市: 杭州(86)
邮编: 310053
发明/设计人: 潘建根、沈海平、丁鹏飞
代理人: 林宝堂
专利代理机构: 嘉兴市专利事务所(33109)
专利代理机构地址: 浙江省嘉兴市中山西路251号(314001)
专利类型: 发明
公开号: 000000000
公告日: 2008年3月12日
授权日: 2008年3月12日
公告号: 201034729
优先权:
审批历史:
附图数: 2
页数: 7
权利要求项数: 2
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